4.3 Алгоритм СХЕМА
Алгоритм СХЕМА выявляет локальные неровности лунного рельефа. Он обнаруживает локальные максимумы высоты лунной поверхности. Яркость "горизонтального" участка поверхности на вершине находится как средняя яркость изображения в круглом окне, описанном вокруг исследуемого пиксела с радиусом 15 пикселов. В направлении солнечного освещения выделяется цепочка из 5 пикселов, центрированная на исследуемый пиксел. Методом наименьших квадратов находится линейная зависимость между положением пиксела в цепочке и его яркостью. С помощью этой зависимости находится расчетное положение пиксела с яркостью "горизонтального" участка, лежащего на вершине. Вычисленный пиксел наносится на схему черной точкой. Эта операция повторяется для всех пикселов изображения. Сглаживание по пяти точкам позволяет выявлять детали, которые незаметны даже на SAAM-изображениях, но при этом теряется разрешение. Поэтому СХЕМА и SAAM-алгоритм не дублируют, а дополняют друг друга. [13,14]
Пример работы алгоритма СХЕМА показан на рис.4.
Рис.4. HIRES-изображение LHD0331A.062 (слева) и схема локальных возвышенностей, выявленных алгоритмом СХЕМА.
- Введение
- 1. Проблемы исследования луны
- 1.1 Опасности лунной пыли
- 1.2 Лунные пылевые бури
- 2. Трехмерная карта луны
- 2.1 Программа NASA World Wind
- 3. Вода на луне и новые технологии
- 3.1 Поиск воды на луне этап первый
- 3.2 Поиск воды на луне этап второй
- 3.2.1 О приборе LEND
- 3.2.2 Голубой лед
- Поиск завершен. Этап последний
- 4. Некоторые алгоритмы обработки данных
- 4.1 Предварительный фрактальный тест
- 4.2 Прямоугольный тест
- 4.3 Алгоритм СХЕМА
- 4.4 База данных информационной справочной системы номенклатуры лунных образований
- 5. Пример одной программы
- 6. Модель Лунной Станции
- Заключение